브이플러스랩 김문주 대표와 유신 교수가 발표한 SW 오류 위치 자동 추정 기술 논문이,
정보과학회 Top A급 우수국제학회인 IEEE ICST 2024에서 과거 10년간 가장 영향력 있는 논문에
부여하는 Most Influential Paper Award를 수상했다.
김문주 교수와 유신 교수 연구팀은, SW 개발 과정에서 개발자의 대부분의 시간이 SW 오류의 위치를 정확하게 찾고 수정하는 데에 소요되는 어려움을 극복하기 위해, 새로운 SW 오류 위치 자동 검출 기술인 MUSE를 개발하였다.
MUSE는 테스트 대상 SW를 다양하게 변이한 후, 수많은 변이 버전들에 (즉, 변이가 적용된 구문들에) 대한 테스트 pass/fail 결과들의 변화를 통계적으로 분석하여, SW 오류의 위치를 정확하게 검출하는 창의적인 기술을 도입하였다.
본 연구는 SW 오류 위치 자동 검출의 새로운 장을 열었으며, 수많은 후속 연구가 파생되는 등,
SW 품질 향상 연구에 큰 기여를 하였다. [소식 링크]
